Comparação do comprimento de coerência de fase em filmes de CdO policristalinos

O papel dos substratos no crescimento de filmes finos possui implicações estruturais e morfológicas que também podem afetar as propriedades eletrônicas. Em um trabalho publicado recentemente na revista Thin Solid Films (https://doi.org/10.1016/j.tsf.2024.140423), o pesquisador Luis M.B. Vargas, da UNIFEI, analisou as características de filmes de óxido de cádmio (CdO) crescidos pela técnica de spray pirólise em dois substratos distintos: o vidro amorfo e o silício cristalino . Embora a morfologia do CdO/Si apresente uma superfície semelhante a domos, porém com cristalinidade e mobilidade eletrônica maiores em comparação com o CdO  crescido em vidro. Em ambos casos, observou-se a magnetorresistência negativa em temperaturas inferiores a 110 K devido ao efeito de localização fraca. Apesar das diferenças nas propriedades morfológicas e elétricas, o comportamento linear do comprimento de coerência de fase em função da temperatura é atribuído à interação elétron-elétron e é independente do substrato empregado. Este resultado mostra o potencial de aplicação da técnica de spray-pirólise para a produção de dispositivos de alta velocidade.

Esta investigação contou com a colaboração de uma equipe bem afinada de pesquisadores da UNIFEI (Karine Bolaños, Matheus J. da Silva, Suelen de Castro e Marcelos L. Peres) e da UFSCar (Marcio PF de Godoy).