Espectroscopia Raman como método de caracterização estrutural em nanoescala

Um método simples, baseado na espectroscopia Raman, permite determinar o comprimento de coerência cristalina (D_c) de sistemas baseados em ZnO com ordem de longo alcance na escala de dezenas de nanômetros. Baseado nos resultados das análises de fotoluminescência, pode-se inferir que as intensidades relativas dos picos Raman são influenciadas tanto por D_c quanto pelo comprimento de onda excitante do laser devido a processos de ressonância que envolvem seletivamente fônons fora do Centro da Zona Brillouin. Algumas vantagens competitivas e significativas deste método são a sensibilidade a pequenas modificações estruturais abaixo do limite de detecção das técnicas convencionais, como a difração de raios X, e as análises in-situ com alta resolução espacial microscópica sem a necessidade de grandes fontes de raios-X ou ambientes síncrotron.

Os resultados desta investigação foram publicados recentemente na revista Applied Nanoscience (https://doi.org/10.1007/s13204-023-02978-0) e foram conduzidos pela pesquisadora Dr^a . Ana Laura Curcio e os  professores da UFSCar, Marcio Peron Franco de Godoy e Ariano de Giovanni Rodrigues.