Temperatura, prejuízo ou vantagem no surgimento da memória: o caso do ZnO
O aparecimento natural de efeitos de memória em sólidos é um tópico fascinante e foi analisado de forma sistemática, unindo teoria e experimento, em filmes de óxido de zinco. Reduzindo o problema a seus ingredientes básicos, o transporte eletrônico lateral (in plane) em ZnO é investigado utilizando medições cíclicas associadas a alterações de temperatura. Esses mecanismos de memória têm sido raramente relatados na literatura e o artigo lança luz, tanto experimental quanto teoricamente, sobre a sintonização da resposta memristiva em filmes de ZnO. A caracterização estrutural, óptica e de transporte eletrônico permite vincular de forma inequívoca os efeitos observados à geração de carga fora de equilíbrio nos cristalitos uniformemente distribuídos pela estrutura.
Este estudo, que fez parte do trabalho experimental de doutorado de Aline Bastos de Paiva e do trabalho teórico de mestrado de Rafael Schio Wengenroth Silva, foi recentemente publicado na revista The Journal of Chemical Physics. Este trabalho contou com a colaboração dos professores da UFSCar, Marcio Peron Franco de Godoy e Victor Lopez-Richard, e da UNIFEI, Demétrio A. W. Soares e Marcelos Lima Peres, e do doutorando Luis Miguel Bolaños Vargas (UNIFEI).